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眾人回到控制室，羅陽坐到其中一臺電腦前，說道：

“測你們這種薄膜樣品，X射線要以近乎水平的角度射到矽片的邊緣。

需要保證每次測試時，剛好有一半的X射線被矽片擋住，另一半X射線則照射到樣品表面，與樣品發生作用，產生衍射訊號，最終被訊號收集器收集。

為了防止訊號收集器**射線直接照射，要在它的前面放置一枚鉛製硬幣，用來吸收絕大部分的X光。

現在我們來進行除錯。”

羅陽一邊用程式語言控制測試艙內的儀器，一邊介紹：

“除錯過程就只是給你們講一下，不懂的話也不影響你們測試。

第一步，我們先把樣品臺在垂直方向，也就是z方向上，向靠近地面的方向移動，使樣品完全沒有擋住X射線。

此時，檢測器上的訊號強度是幾乎恆定的，也是它的最大值，這個極值需要記錄下來。

第二步，將樣品臺緩緩上升，直到檢測器上的訊號強度開始降低，這就表明樣品開始擋住X射線了。

第三步，讓樣品臺的z座標，在一個較小的範圍內線性變化，在此期間對訊號強度進行掃描，得到訊號強度隨z座標變化的曲線。

找到訊號強度為最大強度的一半左右時對應的z座標，並將樣品臺移動到此z座標處。

這個時候，對應的就是有一半的X射線被樣品擋住的狀態。

第四步，我們需要標定樣品臺的旋轉角度，因為我們並不知道入射的X光是否是完全平行於樣品表面的。

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